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LPBF激光束偏移控制TPMS晶格几何精度 密度偏差达64%
一项新研究揭示了激光束偏移量对LPBF成形TPMS点阵结构几何精度的关键影响。该研究由Ibrahim H. ZainElabdeen等人完成,发表于2026年《增材制造》期刊。研究团队以Inconel 718为材料,制备了Primitive、Gyroid和Diamond三种TPMS结构。通过调整激光束偏移量,使其在过熔和欠熔之间变化,相对密度偏差介于+64%至-20%之间。其中,Diamond结构对偏移量最为敏感,偏差幅度最大。X射线断层扫描与压缩测试结果表明,偏移量、激光功率与扫描速度三者需协同优化。
当前,金属增材制造领域对薄壁TPMS结构的几何控制研究仍不充分。传统方法多聚焦于调整激光参数以控制杆径,却忽视了偏移量所扮演的关键角色。该研究填补了这一空白,为工艺优化提供了新颖的视角。具体而言,该研究将激光束偏移量确立为LPBF工艺中的一阶几何控制变量,使得成形件的实际几何尺寸能够主动匹配设计值,而无需改变热工艺参数。这一发现不仅有助于解释文献中力学性能数据不一致的现象,也为高性能点阵结构的制造提供了切实可行的控制策略。