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新鲁汶大学自动化SEM/EDS逐粒筛查LPBF铝粉，揭示Sn杂质偏析风险
比利时新鲁汶大学研究团队通过自动化扫描电子显微镜(SEM)和能谱仪(EDS)逐颗粒筛查（每批2万颗）对比了两种Sn含量的气雾化Al-Mg-Zr粉末。研究发现Sn并非均匀分布在粉末中，而是以极少数高富集颗粒（Sn>45 wt.%）形式存在——ICP整体分析显示高Sn批次仅含0.07 wt.% Sn，但单颗粒筛查发现含8颗富集颗粒，且尺寸处于LPBF原料适用窗口（25-40 μm），常规筛分无法去除。打印件中观察到与Sn富集区域相关的孔隙及断口表面Sn相，证实了粉末到零件的直接转移。研究提示，传统整体成分分析可能掩盖局部颗粒级污染，需将单颗粒成分筛查纳入粉末认证和重复使用决策流程，为粉末冶金质量控制提供了新的方法论依据。
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